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Fischer Xulm膜厚仪

作者：xiaohe2022-08-26 09:09:25

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Fischer XUL膜厚仪

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Fischer xulm-240

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  Fischer Xulm膜厚仪(1/3)

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  Fischer Xulm膜厚仪(2/3)

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  Fischer Xulm膜厚仪(3/3)

仪器介绍

      XULM是一款性能卓越，设计紧凑，应用广泛的X射线荧光镀层及材料分析仪。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控，来料检验及生产过程控制中测量使用。

设计用途

       能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪，用于无损测量镀层厚度及分析材料成分

应用领域

•       在小部件，如螺丝钉，螺栓和螺帽上的测量

•       在连接器和电气元件上的测量

•       电镀液的溶液成分分析

高压

     三档：30Kv,40Kv,50Kv

孔径

      由四孔准直器组成：

        0.1mm     0.2mm     0.3mm       0.05*0.05mm