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Fischer XDL-B膜厚仪

作者：小编2021-03-23 14:23:43

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Fischer XDL-B膜厚仪(不升降）

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Fischer XUL膜厚仪

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  Fischer XDL-B膜厚仪(1/5)

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  Fischer XDL-B膜厚仪(2/5)

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  Fischer XDL-B膜厚仪(3/5)

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  Fischer XDL-B膜厚仪(4/5)

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  Fischer XDL-B膜厚仪(5/5)

产品介绍

       XDL系列仪器配备了比列计数管探测器，适用于质量控制，来料检验和生产监控。由于它测量空间大，故而适合测量有复杂几何形状的大尺寸样品。XDL系列不仅可以配置简单样品平台，还可以配置不同的XY工作台，因而可用于自动化批量测量，可进行上下移动。

设计用途

       能量色散X射线荧光镀层测厚及材料分析仪（EDXRF）用来测量薄镀层和微小结构，分析合金和微量组分。

元素范围

       从元素氯（17）到铀（92）

       配有可选的WinFTM软件时，最多可同时测定24种元素

应用领域

•        测量大规模生产的电镀零部件

•        测量微小区域上的薄镀层

•        测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

•        全自动测量，如测量印刷线路板

高压    

      三档：30Kv,40Kv,50kv

孔径

      0.3mm  可选0.3*0.05mm

特点

      可进行上下升降和左右移动，全自动测量